| Markenbezeichnung: | ZMSH |
| Modellnummer: | GaN-on-Si-Substrat |
| MOQ: | 5 |
| Zahlungsbedingungen: | T/T |
GaN-auf-Si(111) N/P T-Typ-Substrat Epitaxie 4 Zoll, 6 Zoll, 8 Zoll für LED oder Leistungsgeräte
GaN-auf-Si (111)-Substrate sind aufgrund ihrer großen Bandlücke, hohen Elektronenmobilität und Wärmeleitfähigkeit in der Hochleistungselektronik und Optoelektronik unverzichtbar. Diese Substrate nutzen die Kosteneffizienz und Skalierbarkeit von Silizium und ermöglichen Wafer mit großem Durchmesser. Allerdings müssen Herausforderungen wie Gitterfehlanpassungen und Unterschiede in der Wärmeausdehnung zwischen GaN und Si (111) angegangen werden, um Versetzungsdichte und Spannung zu reduzieren. Zur Optimierung der Kristallqualität werden fortschrittliche epitaktische Wachstumstechniken wie MOCVD und HVPE eingesetzt. GaN-auf-Si (111)-Substrate werden häufig in der Leistungselektronik, HF-Geräten und LED-Technologie verwendet und bieten ein ausgewogenes Verhältnis von Leistung, Kosten und Kompatibilität mit bestehenden Halbleiterherstellungsprozessen.
![]()
Galliumnitrid auf Silizium (GaN-on-Si) ist eine Substrattechnologie, die die Eigenschaften von Galliumnitrid (GaN) mit der Kosteneffizienz und Skalierbarkeit von Silizium (Si) kombiniert. GaN-auf-Si-Substrate sind aufgrund ihrer einzigartigen Eigenschaften besonders in der Leistungselektronik, HF-Geräten und LEDs beliebt. Nachfolgend sind einige wichtige Eigenschaften und Vorteile von GaN-auf-Si-Substraten aufgeführt:
GaN-auf-Si-Substrate bieten eine kostengünstige Lösung für die Integration der Hochleistungseigenschaften von GaN mit der Großserienfertigungsfähigkeit von Silizium und machen sie zu einer entscheidenden Technologie in verschiedenen fortschrittlichen elektronischen Anwendungen.
| Parameterkategorie | Parameter | Wert/Bereich | Bemerkungen |
|---|---|---|---|
| Materialeigenschaften | Bandlücke von GaN | 3,4 eV | Halbleiter mit großer Bandlücke, geeignet für Hochtemperatur-, Hochspannungs- und Hochfrequenzanwendungen |
| Bandlücke von Si | 1,12 eV | Silizium als Substratmaterial bietet eine gute Wirtschaftlichkeit | |
| Wärmeleitfähigkeit | 130-170 W/m·K | Wärmeleitfähigkeit der GaN-Schicht; Siliziumsubstrat beträgt ca. 149 W/m·K | |
| Elektronenmobilität | 1000-2000 cm²/V·s | Elektronenmobilität in der GaN-Schicht höher als in Silizium | |
| Dielektrizitätskonstante | 9,5 (GaN), 11,9 (Si) | Dielektrizitätskonstanten von GaN und Si | |
| Wärmeausdehnungskoeffizient | 5,6 ppm/°C (GaN), 2,6 ppm/°C (Si) | Nicht übereinstimmende Wärmeausdehnungskoeffizienten von GaN und Si, was möglicherweise zu Spannungen führt | |
| Gitterkonstante | 3,189 Å (GaN), 5,431 Å (Si) | Fehlanpassung der Gitterkonstanten zwischen GaN und Si, was möglicherweise zu Versetzungen führt | |
| Versetzungsdichte | 10⁸-10⁹ cm⁻² | Typische Versetzungsdichte in der GaN-Schicht, abhängig vom epitaktischen Wachstumsprozess | |
| Mechanische Härte | 9 Mohs | Die mechanische Härte von GaN sorgt für Verschleißfestigkeit und Haltbarkeit | |
| Wafer-Spezifikationen | Waferdurchmesser | 2 Zoll, 4 Zoll, 6 Zoll, 8 Zoll | Gängige Größen für GaN auf Si-Wafern |
| GaN-Schichtdicke | 1-10 µm | Abhängig von den spezifischen Anwendungsanforderungen | |
| Substratdicke | 500-725 µm | Typische Dicke des Siliziumsubstrats für die mechanische Festigkeit | |
| Oberflächenrauheit | < 1 nm RMS | Oberflächenrauheit nach dem Polieren, um ein qualitativ hochwertiges epitaktisches Wachstum sicherzustellen | |
| Stufenhöhe | < 2 nm | Stufenhöhe in der GaN-Schicht, die sich auf die Geräteleistung auswirkt | |
| Waffelbogen | < 50 µm | Waferbogen, Einfluss auf die Prozesskompatibilität | |
| Elektrische Eigenschaften | Elektronenkonzentration | 10¹⁶-10¹⁹ cm⁻³ | n-Typ- oder p-Typ-Dotierungskonzentration in der GaN-Schicht |
| Widerstand | 10⁻³-10⁻² Ω·cm | Typischer spezifischer Widerstand der GaN-Schicht | |
| Zusammenbruch des elektrischen Feldes | 3 MV/cm | Hohe Durchbruchfeldstärke in der GaN-Schicht, geeignet für Hochspannungsgeräte | |
| Optische Eigenschaften | Emissionswellenlänge | 365-405 nm (UV/Blau) | Emissionswellenlänge von GaN-Material, das in LEDs und Lasern verwendet wird |
| Absorptionskoeffizient | ~10⁴ cm⁻¹ | Absorptionskoeffizient von GaN im sichtbaren Lichtbereich | |
| Thermische Eigenschaften | Wärmeleitfähigkeit | 130-170 W/m·K | Wärmeleitfähigkeit der GaN-Schicht; Siliziumsubstrat beträgt ca. 149 W/m·K |
| Wärmeausdehnungskoeffizient | 5,6 ppm/°C (GaN), 2,6 ppm/°C (Si) | Nicht übereinstimmende Wärmeausdehnungskoeffizienten von GaN und Si, was möglicherweise zu Spannungen führt | |
| Chemische Eigenschaften | Chemische Stabilität | Hoch | GaN hat eine gute Korrosionsbeständigkeit und ist für raue Umgebungen geeignet |
| Oberflächenbehandlung | Staubfrei, kontaminationsfrei | Sauberkeitsanforderung an die GaN-Waferoberfläche | |
| Mechanische Eigenschaften | Mechanische Härte | 9 Mohs | Die mechanische Härte von GaN sorgt für Verschleißfestigkeit und Haltbarkeit |
| Elastizitätsmodul | 350 GPa (GaN), 130 GPa (Si) | Der Elastizitätsmodul von GaN und Si beeinflusst die mechanischen Eigenschaften des Geräts | |
| Produktionsparameter | Epitaktische Wachstumsmethode | MOCVD, HVPE, MBE | Gängige epitaktische Wachstumsmethoden für GaN-Schichten |
| Rendite | Hängt von der Prozesssteuerung und der Wafergröße ab | Die Ausbeute wird durch Faktoren wie Versetzungsdichte und Waferkrümmung beeinflusst | |
| Wachstumstemperatur | 1000–1200 °C | Typische Temperatur für das epitaktische Wachstum einer GaN-Schicht | |
| Kühlrate | Kontrollierte Kühlung | Die Abkühlgeschwindigkeit wird normalerweise kontrolliert, um thermische Spannungen und Waferverbiegungen zu verhindern |
![]()
![]()
![]()
![]()
GaN-auf-Si-Substrate werden hauptsächlich in mehreren Schlüsselanwendungen verwendet:
Leistungselektronik: GaN-on-Si wird aufgrund seines hohen Wirkungsgrads, seiner schnellen Schaltgeschwindigkeiten und seiner Fähigkeit, bei hohen Temperaturen zu arbeiten, häufig in Leistungstransistoren und -wandlern verwendet, was es ideal für Stromversorgungen, Elektrofahrzeuge und Systeme für erneuerbare Energien macht.
HF-Geräte: GaN-auf-Si-Substrate werden in HF-Verstärkern und Mikrowellentransistoren eingesetzt, insbesondere in 5G-Kommunikations- und Radarsystemen, bei denen eine hohe Leistungs- und Frequenzleistung von entscheidender Bedeutung ist.
LED-Technologie: GaN-on-Si wird bei der Herstellung von LEDs verwendet, insbesondere für blaue und weiße LEDs, und bietet kostengünstige und skalierbare Fertigungslösungen für Beleuchtung und Displays.
Fotodetektoren und Sensoren: GaN-on-Si wird auch in UV-Fotodetektoren und verschiedenen Sensoren verwendet und profitiert von der großen Bandlücke und der hohen Empfindlichkeit von GaN gegenüber UV-Licht.
Diese Anwendungen unterstreichen die Vielseitigkeit und Bedeutung von GaN-auf-Si-Substraten in der modernen Elektronik und Optoelektronik.
![]()
![]()
![]()
![]()
F: Warum GaN über Si?
A:GaN auf Si bietet eine kostengünstige Lösung für Hochleistungselektronik und kombiniert die Vorteile der großen Bandlücke, der hohen Elektronenmobilität und der Wärmeleitfähigkeit von GaN mit der Skalierbarkeit und Erschwinglichkeit von Siliziumsubstraten. GaN eignet sich ideal für Hochfrequenz-, Hochspannungs- und Hochtemperaturanwendungen und ist daher eine hervorragende Wahl für Leistungselektronik, HF-Geräte und LEDs. Siliziumsubstrate ermöglichen größere Wafergrößen, senken die Produktionskosten und erleichtern die Integration in bestehende Halbleiterfertigungsprozesse. Obwohl es Herausforderungen wie Gitterfehlanpassungen und Unterschiede in der Wärmeausdehnung gibt, tragen fortschrittliche Techniken dazu bei, diese Probleme zu mildern, was GaN auf Si zu einer überzeugenden Option für moderne elektronische und optoelektronische Anwendungen macht.
F: Was ist GaN-on-Si?
A:GaN-on-Si bezieht sich auf Galliumnitrid (GaN)-Schichten, die auf einem Siliziumsubstrat (Si) gewachsen sind. GaN ist ein Halbleiter mit großer Bandlücke, der für seine hohe Elektronenmobilität, Wärmeleitfähigkeit und die Fähigkeit, bei hohen Spannungen und Temperaturen zu arbeiten, bekannt ist. Wenn es auf Silizium gezüchtet wird, kombiniert es die fortschrittlichen Eigenschaften von GaN mit der Kosteneffizienz und Skalierbarkeit von Silizium. Dies macht GaN-on-Si ideal für Anwendungen in der Leistungselektronik, HF-Geräten, LEDs und anderen elektronischen und optoelektronischen Hochleistungsgeräten. Die Integration mit Silizium ermöglicht größere Wafergrößen und Kompatibilität mit bestehenden Halbleiterherstellungsprozessen, obwohl Herausforderungen wie Gitterfehlanpassungen bewältigt werden müssen.