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Einzelheiten zu den Produkten

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wissenschaftliche Laborausrüstung
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Sonde Station Chuck Stabil Wafer Probing und elektrische Prüfung

Sonde Station Chuck Stabil Wafer Probing und elektrische Prüfung

Markenbezeichnung: ZMSH
MOQ: 2
Preis: by case
Verpackungsdetails: individuelle Kartons
Zahlungsbedingungen: T/T
Ausführliche Information
Herkunftsort:
China
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
Von Fall zu Fall
Produkt-Beschreibung

Probe Station Chuck Produkt Einführung

Der Sondenstation-Rohr ist ein Schlüsselbestandteil einer Sondenstation, der zur Unterstützung, Aufbewahrung und Positionierung von Wafern oder Proben während der elektrischen Prüfung und Charakterisierung des Geräts ausgelegt ist.Es bietet eine stabile Prüfplattform für Wafer, Chips, Substrate und Halbleitervorrichtungen, die einen zuverlässigen Kontakt zwischen den Sondenadeln und dem zu prüfenden Gerät gewährleisten.

 

Der Schalter wird häufig für Waferproben, Halbleiterparameterprüfungen, Fehleranalysen, Forschungs- und Entwicklungskontrollen und Produktionsinspektionen verwendet.Der Schlag kann als Standardschlag konstruiert werden, Vakuum- oder Heißschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschubschub

 

Sonde Station Chuck Stabil Wafer Probing und elektrische Prüfung 0


Produktfunktion

Die Hauptaufgabe der Sondenstation ist es, die Wafer oder Probe während des Sondenprozesses flach, stabil und genau positioniert zu halten.Der Schalter verhindert die Bewegung der Proben und verbessert die Wiederholbarkeit und Genauigkeit elektrischer Messungen..

 

Für Temperaturprüfungen kann der Schalter auch mit Heizmodulen, Temperatursensoren oder Kühlstrukturen integriert werden, um eine stabile thermische Steuerung während der Messung zu ermöglichen.

 


Wesentliche Merkmale

Stabiler Waferhalter

Die Schlagfläche ist so konzipiert, dass sie die Wafer oder Probe während der Sondierung fest stützt.

Sonde Station Chuck Stabil Wafer Probing und elektrische Prüfung 1Hochflächigkeit

Die Präzisionsbearbeitung und das Polieren sorgen für eine gute Oberflächenflächigkeit, die für einen stabilen Waferkontakt und eine genaue Sondenprüfung wichtig ist.

Optionale Vakuumkonstruktion

Der Schlauch kann mit Vakuumlöchern, ringförmigen Vakuum-Rillen oder mehrzonenhaften Vakuum-Adsorptionsstrukturen ausgelegt werden, um unterschiedliche Probengrößen und Prüfbedürfnisse zu erfüllen.

Gute thermische Leistung

Für Anwendungen mit Heißschub können Materialien mit guter Wärmeleitfähigkeit ausgewählt werden, um die Heizleistung und die Temperaturgleichheit zu verbessern.

Spezifische Oberflächenbehandlung

Oberflächenbehandlungen wie Goldbeschichtung, Nickelbeschichtung, Anodisierung, Keramikbeschichtung oder andere Schutzbeschichtungen sind verfügbar, um die Verschleißfestigkeit, Oxidationsbeständigkeit, Leitfähigkeit,oder Isolationsleistung.

Benutzerdefinierte Montageoberfläche

Die Bodenstruktur, die Montagelöcher, die Vakuum-Ports und die Anschlussoberfläche können nach dem Entwurf der Sondenstation des Kunden angepasst werden.

 


Verfügbare Arten

Typ Beschreibung
Standard Chuck Für die allgemeine Wafer- oder Probenhaltung bei Raumtemperatur-Sondern verwendet
Staubsauger Verwendet Vakuumabsorption, um Wafer oder Proben fest an Ort und Stelle zu halten
Der heiße Chuck. Mit integrierter Heizfunktion für Hochtemperatur-Sondung und thermische Prüfung
Hohe / Niedrige Temperatur Chuck mit einer Leistung von mehr als 1000 W und
- Ich habe ihn gekauft. Konstruktion nach spezieller Wafergröße, Material, Beschichtung oder Ausrüstungsschnittstelle

Anpassbare Spezifikationen

Artikel Auswahlmöglichkeiten
Wafergröße 2", 3", 4", 6", 8" oder angepasst
Material Aluminiumlegierung, Kupferlegierung, Edelstahl, Keramik usw.
Oberflächenbearbeitung Polster, überzogen, beschichtet, anodisiert oder nach Maß
Vakuumstruktur Vakuumlöcher, Vakuumrillen, Mehrzonenvakuumkonstruktion
Temperaturfunktion Raumtemperatur, Heizung, Kühlung oder Hochtemperatur-/Niedertemperaturregelung
Oberflächenflächigkeit Nach Maßgabe der Prüfgenauigkeitsanforderungen angepasst
Montageanlage Entworfen nach der Schnittstelle zur Installation der Sondenstation
Anwendung Waferprüfungen, Chipprüfungen, Halbleiterproben, FuE-Prüfungen

 

 


Typische Anwendungen

  • Wafer-Sonde
  • Elektrische Prüfungen von Halbleitern
  • I-V / C-V-Messung
  • Splitter- und Werkstoffprüfung
  • Prüfung von LED-, Si-, SiC-, GaN- und GaAs-Geräten
  • Charakterisierung der Leistungseinrichtung und der HF-Einrichtung
  • Laborforschung und -entwicklung und Ausfallanalyse
  • Prüfungen an Hochtemperatursonde-Stationen

Sonde Station Chuck Stabil Wafer Probing und elektrische Prüfung 2

Häufig gestellte Fragen

F1: Was ist ein Sonden-Station-Chuck?

Eine Sondenstation-Riegel ist eine Präzisionsplatform, die in einer Sondenstation verwendet wird, um Wafer, Chips oder Substrate während elektrischer Tests zu unterstützen und zu befestigen.Es hilft, die Probe stabil und genau positioniert zu halten, während Sonde Nadeln Kontakt mit dem Gerät.

 

F2: Was ist die Hauptfunktion des Schubs?

Die Hauptfunktion besteht darin, die Wafer oder die Probe während der Sondierung fest zu halten.mit einer Leistung von mehr als 50 W und einer Leistung von mehr als 50 W.

 

F3: Welche Wafergrößen kann der Schalter unterstützen?

Der Schalter kann für verschiedene Wafergrößen angepasst werden, wie2 Zoll, 3 Zoll, 4 Zoll, 6 Zoll, 8 Zoll, oder andere spezielle Größen nach Kundenanforderungen.