• 8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung
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8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung

8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung

Produktdetails:

Herkunftsort: China
Markenname: ZMSH

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Detailinformationen

Waferdurchmesser: 8 Zoll (200 mm) Kristallstruktur: 4H-N-Typ (sechseckiges Kristallsystem)
Dopingart: N-Typ (Stickstoff-Doppiert) Bandgap: 3.23 eV
Elektronenmobilität: 800 ‰ 1000 cm2/V·s Wärmeleitfähigkeit: 120-150 W/m·K
Oberflächenrauheit: < 1 nm (RMS) Härte: Mohs-Härte 9.5
Waferdicke: 500 ± 25 μm Widerstand: 0.01 10 Ω·cm
Hervorheben:

SiC-Wafer für die Forschung

,

8 Zoll SiC Wafer

,

4H-N SiC-Wafer

Produkt-Beschreibung

8 Zoll 4H-N SiC-Wafer, Dicke 500±25μm oder individuell angepasst, N-Doped, Dummy, Produktions- und Forschungsgrad

8 Zoll 4H-N Typ SiC Wafer Abstrakt

 

Das 8-Zoll-Siliziumkarbid (SiC) -Wafer des Typs 4H-N ist ein hochmodernes Material, das in der Leistungselektronik und in fortschrittlichen Halbleiteranwendungen weit verbreitet ist.insbesondere der 4H-Polytyp, ist für seine überlegenen physikalischen und elektrischen Eigenschaften, einschließlich einer breiten Bandbreite von 3,26 eV, hoher Wärmeleitfähigkeit und außergewöhnlicher Abbruchspannung, sehr geschätzt.Diese Eigenschaften machen es ideal für hohe Leistung, Hochtemperatur- und Hochfrequenzgeräte.

 

DieN-DopingEinführung von Spenderverunreinigungen wie Stickstoff, Verbesserung der elektrischen Leitfähigkeit der Wafer und präzise Kontrolle ihrer elektronischen Eigenschaften.Dieses Doping ist unerlässlich für die Herstellung fortschrittlicher Energiegeräte wie MOSFETs.Die 8-Zoll-Wafergröße markiert einen bedeutenden Meilenstein in der SiC-Wafer-Technologie.Erhöhung des Ertrags und Kosteneffizienz für die Großproduktion, die Anforderungen von Branchen wie Elektrofahrzeugen, erneuerbaren Energiesystemen und industrieller Automatisierung erfüllen.

 


 

Eigenschaften der SiC-Wafer des 8 Zoll großen Typs 4H-N

 

Grundlegende Eigenschaften

 

 

1.Wafergröße: 8 Zoll (200 mm), eine Standardgröße für die Großproduktion, die häufig bei der Herstellung leistungsstarker Halbleitergeräte verwendet wird.

 

2.Kristallstruktur: 4H-SiC, das zum hexagonalen Kristallsystem gehört. 4H-SiC bietet hohe Elektronenmobilität und eine ausgezeichnete Wärmeleitfähigkeit, was es ideal für Hochfrequenz- und Hochleistungsanwendungen macht.

 

3.Dopingart: N-Typ (Stickstoffdoped), bietet Leitfähigkeit für Leistungseinrichtungen, HF-Geräte, optoelektronische Geräte usw.

 

Elektrische Eigenschaften

 

1- Das ist Bandgap.: 3,23 eV, die eine große Bandbreite bieten, die einen zuverlässigen Betrieb in Umgebungen mit hoher Temperatur und hoher Spannung gewährleistet.

 

2Elektronenmobilität: 800~1000 cm2/V·s bei Raumtemperatur, um einen effizienten Ladungstransport zu gewährleisten, geeignet für Hochleistungs- und Hochfrequenzanwendungen.

 

3- Ein elektrisches Feld.: > 2,0 MV/cm, was darauf hindeutet, dass die Wafer hohe Spannungen aushalten kann und somit für Hochspannungsanwendungen geeignet ist.

 

Thermische Eigenschaften

 

1.Wärmeleitfähigkeit: 120­150 W/m·K, wodurch eine wirksame Wärmeableitung bei Anwendungen mit hoher Leistungsdichte ermöglicht und Überhitzung verhindert wird.

 

2Koeffizient der thermischen Ausdehnung: 4.2 × 10−6 K−1, ähnlich dem Silizium, was es mit anderen Materialien wie Metallen kompatibel macht und thermische Missverhältnisse reduziert.

 

Mechanische Eigenschaften

 

1.Härte: SiC hat eine Mohs-Härte von 9.5, nur hinter dem Diamanten, was es sehr widerstandsfähig gegen Verschleiß und Beschädigung unter extremen Bedingungen macht.

 

2Oberflächenrauheit: üblicherweise weniger als 1 nm (RMS), um eine glatte Oberfläche für die hochpräzise Halbleiterverarbeitung zu gewährleisten.

 

Chemische Stabilität

 

1Korrosionsbeständigkeit: Ausgezeichnete Beständigkeit gegen starke Säuren, Basen und raue Umgebungen, die eine langfristige Stabilität unter anspruchsvollen Bedingungen gewährleistet.

8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung 0

 

 


 

8 Zoll 4H-N Typ SiC Wafer Bild

 

8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung 1

 

 


 

8 Zoll 4H-N Typ SiC Wafer Anwendung

 

 

1.Leistungselektronik: Weit verbreitet in der Stromversorgung MOSFETs, IGBTs, Schottky-Dioden usw. für Anwendungen wie Elektrofahrzeuge, Stromumwandlung, Energiemanagement und Solarenergie.

8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung 2

 

2.RF und Hochfrequenzanwendungen: Verwendet in 5G-Basisstationen, Satellitenkommunikation, Radarsystemen und anderen Hochfrequenz-Anwendungen mit hoher Leistung.

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3.Optoelektronik: Verwendet in blauen und ultravioletten LEDs und anderen optoelektronischen Geräten.

8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung 4

 

4.Automotive Elektronik: Verwendet in Batteriemanagementsystemen (BMS) für Elektrofahrzeuge, Leistungssteuerungssystemen und anderen Anwendungen im Automobilbereich.

8 Zoll 4H-N SiC Wafer Dicke 500±25μm oder angepasste N-Doped Dummy-Produktionsforschung 5

 

5.Erneuerbare Energien: Verwendet in hocheffizienten Wechselrichter und Energiespeichersystemen, um die Effizienz der Energieumwandlung zu erhöhen.

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