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8-Zoll-SiC-Epitaxial-Wafer Leistung und Effizienz Skalierbare Leistungselektronik

8-Zoll-SiC-Epitaxial-Wafer Leistung und Effizienz Skalierbare Leistungselektronik

Markenbezeichnung: ZMSH
Modellnummer: 4 Zoll
MOQ: 10
Preis: 5 USD
Verpackungsdetails: für die Verpackung
Zahlungsbedingungen: T/T
Ausführliche Information
Herkunftsort:
China
Zertifizierung:
by case
Zulassung:
Null MPD-Klasse
Widerstand 4H-N:
00,015 bis 0,028 Ω•cm
Widerstand 4/6H-SI:
≥1E7 Ω·cm
Primäre Wohnung:
{10-10}±5,0° oder runde Form
TTV/Bow/Warp:
≤10μm /≤10μm /≤15μm
Grobheit:
Polnischer Ra≤1 nm / CMP Ra≤0,5 nm
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
durch Fall
Hervorheben:

Epitaxial SiC-Wafer

,

8 Zoll SiC Epitaxial Wafer

Produkt-Beschreibung

SiC Epitaxial Wafer Übersicht

8-Zoll (200 mm) SiC Epitaxial Wafer entwickeln sich derzeit zur fortschrittlichsten Form im SiC-Bereich. Als Inbegriff von Materialwissenschaft und Fertigungskompetenz bieten 8” SiC Epitaxial Wafer beispiellose Möglichkeiten zur Skalierung der Leistungshalbleiterproduktion und zur Senkung der Kosten pro Bauelement.

Da die Nachfrage nach Elektrofahrzeugen, erneuerbaren Energien und industrieller Leistungselektronik weltweit weiter steigt, ermöglichen 8” Wafer eine neue Generation von SiC-MOSFETs, Dioden und integrierten Leistungsmodulen mit höherem Durchsatz, besserer Ausbeute und geringeren Herstellungskosten.

Mit Wide-Bandgap-Eigenschaften, hoher Wärmeleitfähigkeit und außergewöhnlicher Durchbruchspannung erschließen 8” SiC Wafer neue Leistungs- und Effizienzniveaus in der fortschrittlichen Leistungselektronik.

 

8-Zoll-SiC-Epitaxial-Wafer Leistung und Effizienz Skalierbare Leistungselektronik 08-Zoll-SiC-Epitaxial-Wafer Leistung und Effizienz Skalierbare Leistungselektronik 1

 


 

Wie 8” SiC Epitaxial Wafer hergestellt werden

 

Die Herstellung von 8” SiC Epitaxial Wafern erfordert CVD-Reaktoren der nächsten Generation, präzise Kristallwachstumskontrolle und Ultra-Flach-Substrattechnologie:

  1. Substrat Herstellung
    Monokristalline 8” SiC-Substrate werden durch Hochtemperatur-Sublimationstechniken hergestellt und anschließend auf Sub-Nanometer-Rauheit poliert.

  2. CVD Epitaxie
    Moderne großtechnische CVD-Werkzeuge arbeiten bei ~1600 °C, um hochwertige SiC-Epitaxieschichten auf die 8”-Substrate abzuscheiden, mit optimiertem Gasfluss und Temperaturhomogenität zur Handhabung der größeren Fläche.

  3. Maßgeschneiderte Dotierung
    N-Typ- oder P-Typ-Dotierungsprofile werden mit hoher Gleichmäßigkeit über den gesamten 300-mm-Wafer erzeugt.

  4. Präzisionsmesstechnik
    Gleichmäßigkeitskontrolle, Kristallfehlerüberwachung und In-situ-Prozessmanagement gewährleisten Konsistenz von der Wafermitte bis zum Rand.

  5. Umfassende Qualitätssicherung
    Jeder Wafer wird validiert durch:

    • AFM, Raman und XRD

    • Fehlerkartierung des gesamten Wafers

    • Oberflächenrauheits- und Verformungsanalyse

    • Messungen der elektrischen Eigenschaften


Spezifikationen

  Güteklasse   8InchN-typeSiCSubstrate
1 Polytyp -- 4HSiC
2 Leitfähigkeitstyp -- N
3 Durchmesser mm 200,00±0,5mm
4 Dicke um 700±50µm
5 Kristalloberflächenorientierungsachse Grad 4,0° in Richtung ±0,5°
6 Kerbtiefe mm 1~1,25mm
7 Kerbausrichtung Grad ±5°
8 Spezifischer Widerstand (Durchschnitt) Ωcm NA
9 TTV um NA
10 LTV um NA
11 Durchbiegung um NA
12 Verzug um NA
13 MPD cm-2 NA
14 TSD cm-2 NA
15 BPD cm-2 NA
16 TED cm-2 NA
17 EPD cm-2 NA
18 Fremdpolytypen -- NA
19 SF(BSF)(2x2mmRastergröße) % NA
20 TUA(TotalUsableArea)(2x2mmRastergröße) % NA
21 Nominaler Kantenausschluss mm NA
22 Visuelle Kratzer -- NA
23 Kratzer-kumulierte Länge (Si-Oberfläche) mm NA
24 Si-Seite -- CMP-poliert
25 C-Seite -- CMP-poliert
26 Oberflächenrauheit (Si-Seite) nm NA
27 Oberflächenrauheit (C-Seite) nm NA
28 Lasermarkierung -- C-Seite, oberhalb der Kerbe
29 Kantensplitter (Vorder- und Rückseite) -- NA
30 Hexplatten -- NA
31 Risse -- NA
32 Partikel (≥0,3um) -- NA
33 Flächenkontamination (Flecken) -- Keine:Beide Seiten
34 Restmetallkontamination (ICP-MS) Atom/cm2 NA
35 Kantenprofil -- Fase, R-Form
36 Verpackung -- Multi-Wafer-Kassette oder Einzel-Wafer-Behälter

 

 


Anwendungen

8” SiC Epitaxial Wafer ermöglichen die Massenproduktion zuverlässiger Leistungshalbleiter in Bereichen wie:

  • Elektrofahrzeuge (EVs)
    Traktionswechselrichter, Onboard-Ladegeräte und DC/DC-Wandler.

  • Erneuerbare Energien
    Solar-String-Wechselrichter, Windkraftwandler.

  • Industrieantriebe
    Effiziente Motorantriebe, Servosysteme.

  • 5G / RF-Infrastruktur
    Leistungsverstärker und HF-Schalter.

  • Unterhaltungselektronik
    Kompakte, hocheffiziente Netzteile.


Häufig gestellte Fragen (FAQ)

1. Was ist der Vorteil von 8” SiC Wafern?
Sie reduzieren die Produktionskosten pro Chip erheblich durch eine größere Waferfläche und eine höhere Prozessausbeute.

2. Wie ausgereift ist die 8” SiC-Produktion?
8” geht in die Pilotproduktion mit ausgewählten Branchenführern ein – unsere Wafer sind jetzt für F&E und Volumensteigerung verfügbar.

3. Können Dotierung und Dicke angepasst werden?
Ja, eine vollständige Anpassung des Dotierungsprofils und der Epitaxiedicke ist möglich.

4. Sind bestehende Fabriken mit 8” SiC Wafern kompatibel?
Für die volle 8”-Kompatibilität sind geringfügige Geräte-Upgrades erforderlich.

5. Wie ist die typische Vorlaufzeit?
6–10 Wochen für Erstbestellungen; kürzer für Wiederholungsaufträge.

6. Welche Branchen werden 8” SiC am schnellsten übernehmen?
Automobil-, erneuerbare Energien und Netzinfrastruktur.

 


 

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