| Markenbezeichnung: | ZMSH |
| MOQ: | 1 |
| Preis: | by case |
| Verpackungsdetails: | benutzerdefinierte Kartons |
| Zahlungsbedingungen: | T/T |
Die 12-Zoll-Siliziumkarbid-Wafer (SiC) stellt die nächste Generation von breitbandreichen Halbleiter-Substraten dar,mit einer Leistung von mehr als 50 W und einer Leistung von mehr als 100 W,Im Vergleich zu herkömmlichen 6- und 8-Zoll-SiC-Wafern erhöht das 12-Zoll-Format die nutzbare Chipfläche pro Wafer erheblich, verbessert die Fertigungseffizienz,und bietet ein starkes Potenzial zur langfristigen Kostensenkung.
Siliziumcarbid ist ein breitbandreiches Halbleitermaterial mit hoher Abbauelektrfeldstärke, hervorragender Wärmeleitfähigkeit, hoher Sättigungselektronen-Driftgeschwindigkeit,und hervorragende thermische StabilitätDiese Eigenschaften machen 12-Zoll-SiC-Wafer zu einer idealen Plattform für Hochspannungs-, Hochleistungs- und Hochtemperaturanwendungen.
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Material: Einkristallisches Siliziumkarbid (SiC)
Polytyp: 4H-SiC (Standard für Kraftgeräte)
Leitungstyp:
N-Typ (Stickstoff-Doppiert)
Halbdämmstoffe (anpassbar)
Das Wachstum von 12-Zoll-SiC-Einzelkristallen erfordert eine fortgeschrittene Kontrolle der Temperaturgradienten, der Spannungsverteilung und der Einbeziehung von Verunreinigungen.Die verbesserte PVT- (Physical Vapor Transport) Kristallwachstumstechnologie wird typischerweise verwendet, um einen großen Durchmesser zu erreichen, SiC-Kugeln mit geringen Defekten.
Die Herstellung von 12-Zoll-SiC-Wafern umfasst eine Reihe von hochpräzisen Verfahren:
Einkristallwachstum mit großem Durchmesser
Kristallorientierung und Ingotschnitt
Präzisionsschleifen und Waferverdünnen
Einseitige oder zweiseitige Polierung
Weiterführende Reinigung und umfassende Inspektion
Jeder Schritt wird streng kontrolliert, um eine hervorragende Flachheit, Gleichmäßigkeit der Dicke und Oberflächenqualität zu gewährleisten.
Höhere Geräteleistung pro Wafer: Größere Wafergröße ermöglicht mehr Chips pro Lauf
Verbesserte Produktionseffizienz: Optimiert für Fabriken der nächsten Generation
Kostensenkungspotenzial: Niedrigere Kosten pro Gerät bei der Produktion in großen Mengen
Überlegene thermische und elektrische Leistung: Ideal für harte Betriebsbedingungen
Starke Prozesskompatibilität: geeignet für die Herstellung von SiC-Leistungseinrichtungen
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Elektrofahrzeuge (SiC-MOSFETs, SiC-Schottky-Dioden)
An Bord befindliche Ladegeräte (OBC) und Traktionsumrichter
Infrastruktur für schnelles Laden und Strommodule
Solarumrichter und Energiespeichersysteme
Industrielle Antriebe und Eisenbahnsysteme
Hochleistungselektronik und Verteidigungsanwendungen
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| Artikel | N-TypProduktionsstufe (P) | N-TypEinheitliche Klasse (D) | SI-TypProduktionsstufe (P) |
|---|---|---|---|
| Polytyp | 4H | 4H | 4H |
| Dopingart | N-Typ | N-Typ | / |
| Durchmesser | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm | 300 ± 0,5 mm |
| Stärke | Grün: 600 ± 100 μm / Weiß durchsichtig: 700 ± 100 μm | Grün: 600 ± 100 μm / Weiß durchsichtig: 700 ± 100 μm | Grün: 600 ± 100 μm / Weiß durchsichtig: 700 ± 100 μm |
| Oberflächenorientierung (Ausgeschnitten) | 4° in Richtung< 11 bis 20± 0,5° |
4° in Richtung< 11 bis 20± 0,5° |
4° in Richtung< 11 bis 20± 0,5° |
| Wafer-ID / Primärfläche | Schnitt (Rundwafer) | Schnitt (Rundwafer) | Schnitt (Rundwafer) |
| Notch Tiefe | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm | 1.0 1.5 mm |
| TTV (Gesamtdickenvariation) | ≤ 10 μm | NA | ≤ 10 μm |
| MPD (Mikropipendichte) | ≤ 5 ea/cm2 | NA | ≤ 5 ea/cm2 |
| Widerstand | Meßzone:Zentrum 8 Zoll Fläche | Meßzone:Zentrum 8 Zoll Fläche | Meßzone:Zentrum 8 Zoll Fläche |
| Si-Flächenoberflächenbehandlung | CMP (poliert) | Schleifen | CMP (poliert) |
| Randverarbeitung | Schaum | Keine Chamfer. | Schaum |
| Grenzchips (erlaubt) | Splittertiefe < 0,5 mm | Splittertiefe < 1,0 mm | Splittertiefe < 0,5 mm |
| Lasermarkierung | C-Seitenmarkierung / Nach Kundenanforderungen | C-Seitenmarkierung / Nach Kundenanforderungen | C-Seitenmarkierung / Nach Kundenanforderungen |
| Polytypbereich (polarisiertes Licht) | Keine Polytyp (Randentfernung 3 mm) | Polymorphismusfläche < 5% (Randverzicht von 3 mm) | Keine Polytyp (Randentfernung 3 mm) |
| Risse (Hochintensitätslicht) | Keine Risse (Randverweigerung 3 mm) | Keine Risse (Randverweigerung 3 mm) | Keine Risse (Randverweigerung 3 mm) |
F1: Sind 12-Zoll-SiC-Wafer bereit für die Massenproduktion?
A: 12-Zoll-SiC-Wafer befinden sich derzeit in der Anfangsphase der Industrialisierung und werden von führenden Herstellern weltweit aktiv für die Pilot- und Volumenproduktion ausgewertet.
F2: Was sind die Vorteile von 12-Zoll-SiC-Wafern im Vergleich zu 8-Zoll-Wafern?
A: Das 12-Zoll-Format erhöht die Chipleistung pro Wafer erheblich, verbessert den Fab-Durchsatz und bietet langfristige Kostenvorteile.
F3: Können die Spezifikationen der Wafer angepasst werden?
A: Ja, Parameter wie Leitfähigkeitstyp, Dicke, Poliermethode und Prüfgrad können angepasst werden.