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Einzelheiten zu den Produkten

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Silikon-Karbid-Oblate
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12-Zoll (300 mm) SiC (Siliziumkarbid)

12-Zoll (300 mm) SiC (Siliziumkarbid)

Markenbezeichnung: ZMSH
MOQ: 1
Preis: by case
Verpackungsdetails: benutzerdefinierte Kartons
Zahlungsbedingungen: T/T
Ausführliche Information
Herkunftsort:
China
Polytype:
4H
Dopingart:
N-Typ
Durchmesser:
300 ± 0,5 mm
Dicke:
Grün: 600 ± 100 µm / Weiß-transparent: 700 ± 100 µm
Oberflächenausrichtung (Abschnitt):
4° in Richtung \<11-20\> ± 0,5°
TTV (Gesamtdickenvariation):
≤ 10 µm
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
Von Fall
Produkt-Beschreibung

12-Zoll-Waffe aus Siliziumkarbid (SiC)

Produktübersicht

Die 12-Zoll-Siliziumkarbid-Wafer (SiC) stellt die nächste Generation von breitbandreichen Halbleiter-Substraten dar,mit einer Leistung von mehr als 50 W und einer Leistung von mehr als 100 W,Im Vergleich zu herkömmlichen 6- und 8-Zoll-SiC-Wafern erhöht das 12-Zoll-Format die nutzbare Chipfläche pro Wafer erheblich, verbessert die Fertigungseffizienz,und bietet ein starkes Potenzial zur langfristigen Kostensenkung.

 

Siliziumcarbid ist ein breitbandreiches Halbleitermaterial mit hoher Abbauelektrfeldstärke, hervorragender Wärmeleitfähigkeit, hoher Sättigungselektronen-Driftgeschwindigkeit,und hervorragende thermische StabilitätDiese Eigenschaften machen 12-Zoll-SiC-Wafer zu einer idealen Plattform für Hochspannungs-, Hochleistungs- und Hochtemperaturanwendungen.

 

12-Zoll (300 mm) SiC (Siliziumkarbid) 0       12-Zoll (300 mm) SiC (Siliziumkarbid) 1


Material- und Kristallspezifikationen

  • Material: Einkristallisches Siliziumkarbid (SiC)

  • Polytyp: 4H-SiC (Standard für Kraftgeräte)

  • Leitungstyp:

    • N-Typ (Stickstoff-Doppiert)

    • Halbdämmstoffe (anpassbar)

Das Wachstum von 12-Zoll-SiC-Einzelkristallen erfordert eine fortgeschrittene Kontrolle der Temperaturgradienten, der Spannungsverteilung und der Einbeziehung von Verunreinigungen.Die verbesserte PVT- (Physical Vapor Transport) Kristallwachstumstechnologie wird typischerweise verwendet, um einen großen Durchmesser zu erreichen, SiC-Kugeln mit geringen Defekten.

 

 


12-Zoll (300 mm) SiC (Siliziumkarbid) 2

Herstellungsprozess

Die Herstellung von 12-Zoll-SiC-Wafern umfasst eine Reihe von hochpräzisen Verfahren:

  1. Einkristallwachstum mit großem Durchmesser

  2. Kristallorientierung und Ingotschnitt

  3. Präzisionsschleifen und Waferverdünnen

  4. Einseitige oder zweiseitige Polierung

  5. Weiterführende Reinigung und umfassende Inspektion

Jeder Schritt wird streng kontrolliert, um eine hervorragende Flachheit, Gleichmäßigkeit der Dicke und Oberflächenqualität zu gewährleisten.

 


Wichtige Vorteile

  • Höhere Geräteleistung pro Wafer: Größere Wafergröße ermöglicht mehr Chips pro Lauf

  • Verbesserte Produktionseffizienz: Optimiert für Fabriken der nächsten Generation

  • Kostensenkungspotenzial: Niedrigere Kosten pro Gerät bei der Produktion in großen Mengen

  • Überlegene thermische und elektrische Leistung: Ideal für harte Betriebsbedingungen

  • Starke Prozesskompatibilität: geeignet für die Herstellung von SiC-Leistungseinrichtungen

 12-Zoll (300 mm) SiC (Siliziumkarbid) 3


Typische Anwendungen

  • Elektrofahrzeuge (SiC-MOSFETs, SiC-Schottky-Dioden)

  • An Bord befindliche Ladegeräte (OBC) und Traktionsumrichter

  • Infrastruktur für schnelles Laden und Strommodule

  • Solarumrichter und Energiespeichersysteme

  • Industrielle Antriebe und Eisenbahnsysteme

  • Hochleistungselektronik und Verteidigungsanwendungen

 

12-Zoll (300 mm) SiC (Siliziumkarbid) 4

 


Typische Spezifikationen (anpassen)

Artikel N-TypProduktionsstufe (P) N-TypEinheitliche Klasse (D) SI-TypProduktionsstufe (P)
Polytyp 4H 4H 4H
Dopingart N-Typ N-Typ /
Durchmesser 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm 300 ± 0,5 mm
Stärke Grün: 600 ± 100 μm / Weiß durchsichtig: 700 ± 100 μm Grün: 600 ± 100 μm / Weiß durchsichtig: 700 ± 100 μm Grün: 600 ± 100 μm / Weiß durchsichtig: 700 ± 100 μm
Oberflächenorientierung (Ausgeschnitten) 4° in Richtung< 11 bis 20± 0,5° 4° in Richtung< 11 bis 20± 0,5° 4° in Richtung< 11 bis 20± 0,5°
Wafer-ID / Primärfläche Schnitt (Rundwafer) Schnitt (Rundwafer) Schnitt (Rundwafer)
Notch Tiefe 1.0 1.5 mm 1.0 1.5 mm 1.0 1.5 mm
TTV (Gesamtdickenvariation) ≤ 10 μm NA ≤ 10 μm
MPD (Mikropipendichte) ≤ 5 ea/cm2 NA ≤ 5 ea/cm2
Widerstand Meßzone:Zentrum 8 Zoll Fläche Meßzone:Zentrum 8 Zoll Fläche Meßzone:Zentrum 8 Zoll Fläche
Si-Flächenoberflächenbehandlung CMP (poliert) Schleifen CMP (poliert)
Randverarbeitung Schaum Keine Chamfer. Schaum
Grenzchips (erlaubt) Splittertiefe < 0,5 mm Splittertiefe < 1,0 mm Splittertiefe < 0,5 mm
Lasermarkierung C-Seitenmarkierung / Nach Kundenanforderungen C-Seitenmarkierung / Nach Kundenanforderungen C-Seitenmarkierung / Nach Kundenanforderungen
Polytypbereich (polarisiertes Licht) Keine Polytyp (Randentfernung 3 mm) Polymorphismusfläche < 5% (Randverzicht von 3 mm) Keine Polytyp (Randentfernung 3 mm)
Risse (Hochintensitätslicht) Keine Risse (Randverweigerung 3 mm) Keine Risse (Randverweigerung 3 mm) Keine Risse (Randverweigerung 3 mm)

 


Häufig gestellte Fragen (FAQ)

F1: Sind 12-Zoll-SiC-Wafer bereit für die Massenproduktion?
A: 12-Zoll-SiC-Wafer befinden sich derzeit in der Anfangsphase der Industrialisierung und werden von führenden Herstellern weltweit aktiv für die Pilot- und Volumenproduktion ausgewertet.

 

F2: Was sind die Vorteile von 12-Zoll-SiC-Wafern im Vergleich zu 8-Zoll-Wafern?
A: Das 12-Zoll-Format erhöht die Chipleistung pro Wafer erheblich, verbessert den Fab-Durchsatz und bietet langfristige Kostenvorteile.

 

F3: Können die Spezifikationen der Wafer angepasst werden?
A: Ja, Parameter wie Leitfähigkeitstyp, Dicke, Poliermethode und Prüfgrad können angepasst werden.