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Einzelheiten zu den Produkten

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Silikon-Karbid-Oblate
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8 Zoll Siliconcarbide Epitaxial Wafer (SiC Epi Wafer)

8 Zoll Siliconcarbide Epitaxial Wafer (SiC Epi Wafer)

Markenbezeichnung: ZMSH
Modellnummer: SiC-Epi-Wafer
MOQ: 1
Preis: by case
Verpackungsdetails: benutzerdefinierte Kartons
Zahlungsbedingungen: T/T
Ausführliche Information
Herkunftsort:
China
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
Von Fall
Hervorheben:

8 Zoll große Wafer aus Siliziumkarbid

,

Sic Epitaxial- Oblate

,

Siliziumkarbid Epi-Wafer mit Garantie

Produkt-Beschreibung

Produktübersicht

Der 8-Zoll-Siliziumkarbid (SiC)-Epitaxialwafer ist ein Hochleistungs-Halbleitermaterial, das für die nächste Generation von Leistungselektronik entwickelt wurde. Auf hochwertigen 8-Zoll-SiC-Substraten aufgebaut, wird die Epitaxieschicht mittels fortschrittlicher chemischer Gasphasenabscheidungs (CVD)-Technologie gezüchtet, um präzise Dicke, Dotierstoffkontrolle und überlegene Kristallqualität zu erzielen.

 

Im Vergleich zu herkömmlichen Siliziumwafern bieten SiC-Epitaxialwafer herausragende elektrische, thermische und mechanische Eigenschaften, was sie ideal für Hochspannungs-, Hochfrequenz- und Hochtemperaturanwendungen macht.

 

8 Zoll Siliconcarbide Epitaxial Wafer (SiC Epi Wafer) 0     8 Zoll Siliconcarbide Epitaxial Wafer (SiC Epi Wafer) 1


Funktionsprinzip

Die SiC-Epitaxieschicht wird in einem Hochtemperatur-CVD-Prozess auf ein poliertes SiC-Substrat abgeschieden. Während des Wachstums:

  • Silizium- und kohlenstoffhaltige Gase reagieren bei erhöhten Temperaturen
  • Eine Einkristall-SiC-Schicht bildet sich entsprechend dem Substratgitter
  • Dotierstoffgase (N-Typ oder P-Typ) werden eingeführt, um die elektrischen Eigenschaften zu steuern

Diese Epitaxieschicht dient als aktive Region für die Geräteherstellung und ermöglicht eine präzise Steuerung der Geräteperformance wie Durchbruchspannung und Einschaltwiderstand.

 

8 Zoll Siliconcarbide Epitaxial Wafer (SiC Epi Wafer) 2

 


Hauptmerkmale

  • Großer Durchmesser (8 Zoll / 200 mm): Unterstützt die Massenproduktion und Kostensenkung
  • Geringe Defektdichte: Minimiert Mikropipes und Versetzungen
  • Hervorragende Dickenuniformität: Gewährleistet konsistente Geräteperformance
  • Präzise Dotierstoffkontrolle: Unterstützt kundenspezifische elektrische Eigenschaften
  • Hohe Wärmeleitfähigkeit: Geeignet für Hochleistungsanwendungen
  • Große Bandlücke (~3,26 eV): Ermöglicht Hochtemperatur- und Hochspannungsbetrieb

 


Typische Spezifikationen

8 Zoll Siliconcarbide Epitaxial Wafer (SiC Epi Wafer) 3 

Artikel Spezifikation
Waferdurchmesser 8 Zoll (200 mm)
Substrattyp 4H-SiC
Leitfähigkeitstyp N-Typ / Halbisolierend
Epi-Dicke 5 – 100 µm (anpassbar)
Dotierstoffkonzentration 1E14 – 1E19 cm⁻³
Dickenuniformität ≤ ±5 %
Oberflächenrauheit Ra ≤ 0,5 nm
Defektdichte Geringe Mikropip-Dichte
Orientierung 4° off-axis oder on-axis
 

 

 

 


Anwendungen

8-Zoll-SiC-Epitaxialwafer werden häufig in fortschrittlichen Leistungs- und HF-Geräten eingesetzt, darunter:

  • Elektrofahrzeuge (EVs): Wechselrichter, On-Board-Ladegeräte
  • Erneuerbare Energiesysteme: Solarwechselrichter, Windkraftkonverter
  • Industrielle Leistungsmodule: Hocheffiziente Motorantriebe
  • Schnellladesysteme: Hochfrequenz-Schaltgeräte
  • 5G & HF-Geräte: Hochleistungs-HF-Verstärker

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Vorteile gegenüber Silizium

  • Höheres elektrisches Feld für den Durchbruch (≈10× Silizium)
  • Geringere Schaltverluste
  • Höhere Betriebstemperatur (>200°C)
  • Verbesserte Energieeffizienz
  • Reduzierte Systemgröße und Kühlungsanforderungen

 


Herstellungsprozess

Die Produktion von 8-Zoll-SiC-Epi-Wafern umfasst:

  1. Substratvorbereitung – Hochreine SiC-Wafer-Politur und -Reinigung
  2. Epitaxialwachstum (CVD) – Kontrollierte Abscheidung der SiC-Schicht
  3. Dotierstoffkontrolle – Präzise Einführung von Dotierstoffen
  4. Oberflächenbehandlung – CMP-Politur für ultra-glatte Oberfläche
  5. Inspektion & Tests – Überprüfung von Dicke, Defekten und elektrischen Eigenschaften

 


FAQ

F1: Was ist der Unterschied zwischen einem SiC-Substrat und einem SiC-Epi-Wafer?

A: Das Substrat ist das Basismaterial, während die Epitaxieschicht die funktionale Schicht ist, auf der Geräte hergestellt werden.

 

F2: Können die Epi-Dicke und die Dotierung angepasst werden?

A: Ja, sowohl die Dicke als auch die Dotierstoffkonzentration können entsprechend den Geräteanforderungen angepasst werden.

 

F3: Warum 8-Zoll-SiC-Wafer wählen?

A: Eine größere Wafergröße verbessert die Produktionseffizienz und reduziert die Kosten pro Gerät, was die Massenproduktion unterstützt.