| Markenbezeichnung: | ZMSH |
| MOQ: | 1 |
| Preis: | by case |
| Verpackungsdetails: | individuelle Kartons |
| Zahlungsbedingungen: | T/T |
Die SiC-Epitaxialwafer entwickeln sich zu einem der fortschrittlichsten Formen in der SiC-Industrie.8 SiC-Epitaxialwafer bieten beispiellose Möglichkeiten zur Erweiterung der Produktion von Leistungseinrichtungen und zur Senkung der Kosten pro Gerät.
Da die Nachfrage nach Elektrofahrzeugen, erneuerbaren Energien und industrieller Leistungselektronik weltweit weiter steigt, ermöglichen Wafer eine neue Generation von SiC-MOSFETs, Dioden,und integrierte Leistungsmodule mit höherem Durchsatz, bessere Erträge und geringere Herstellungskosten.
SiC-Wafer verfügen über breite Bandbreiteneigenschaften, hohe Wärmeleitfähigkeit und eine außergewöhnliche Abbruchspannung und bringen neue Leistungs- und Effizienzniveaus in der fortschrittlichen Leistungselektronik.
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Wie SiC-Epitaxialwafer hergestellt werden
Die Herstellung von SiC-Epitaxialwafern erfordert CVD-Reaktoren der nächsten Generation, eine präzise Kristallwachstumskontrolle und eine Ultra-Flach-Substrattechnologie:
Herstellung von Substraten
Monokristalline SiC-Substrate werden mit Hilfe von Hochtemperatur-Sublimationstechniken hergestellt und anschließend bis zu einer Subnanometer-Rohheit poliert.
Herz-Kreislauf-Krankheit Epitaxial Wachstum
Fortgeschrittene großflächige CVD-Werkzeuge arbeiten bei ~ 1600 °C, um hochwertige SiC-Epitaxialschichten auf den 8 ̊-Substraten zu deponieren, wobei der Gasfluss und die Temperaturgleichheit für den Umgang mit der größeren Fläche optimiert sind.
Maßgeschneiderter Doping
N- oder P-Dopingprofile werden mit hoher Gleichmäßigkeit auf der gesamten 300 mm-Wafer erstellt.
Präzisionsmetrologie
Einheitlichkeitskontrolle, Überwachung von Kristallfehlern und In-situ-Prozessmanagement sorgen für Konsistenz von der Wafermitte bis zur Kante.
Umfassende Qualitätssicherung
Jede Wafer wird über:
AFM, Raman und XRD
Mapping von Fehlfunktionen der Vollwafer
Oberflächenrauheit und Warp-Analyse
Messungen der elektrischen Eigenschaften
| Zulassung | SiCSubstrat des Typs 8InchN | ||
| 1 | Polytyp | - Ich weiß nicht. | 4HSiC |
| 2 | LeitfähigkeitTyp | - Ich weiß nicht. | N |
| 3 | Durchmesser | mm | 200.00±0,5 mm |
| 4 | Stärke | Ich weiß nicht. | 700 ± 50 μm |
| 5 | Kristalloberflächenorientierungsachse | Grade | 40,0° nach ± 0,5° |
| 6 | Notchtiefe | mm | 1 bis 1,25 mm |
| 7 | Nichtorientierung | Grade | ± 5° |
| 8 | Widerstand ((Durchschnitt) | Ohm | NA |
| 9 | TTV | Ich weiß nicht. | NA |
| 10 | LTV | Ich weiß nicht. | NA |
| 11 | Verbeugen | Ich weiß nicht. | NA |
| 12 | Warpgeschwindigkeit | Ich weiß nicht. | NA |
| 13 | MPD | cm-2 | NA |
| 14 | TSD | cm-2 | NA |
| 15 | BPD | cm-2 | NA |
| 16 | TED | cm-2 | NA |
| 17 | EPD | cm-2 | NA |
| 18 | Ausländische Politiktypen | - Ich weiß nicht. | NA |
| 19 | SF ((BSF)))) Gridgröße 2x2 mm) | % | NA |
| 20 | TUA ((Gesamtverwendbare Fläche)) ((2x2mm Gridgröße) | % | NA |
| 21 | NominalEdgeExklusion | mm | NA |
| 22 | Bildschrauben | - Ich weiß nicht. | NA |
| 23 | Schablonenlänge ((SiOberfläche) | mm | NA |
| 24 | SiFace | - Ich weiß nicht. | CMPolierte |
| 25 | CFace | - Ich weiß nicht. | CMPolierte |
| 26 | Oberflächenrauheit (Siface) | m | NA |
| 27 | Oberflächenrauheit | m | NA |
| 28 | Lasermarkierung | - Ich weiß nicht. | C-Face, über dem Notch |
| 29 | Edgechip ((Vorder- und Rückseite Oberflächen) | - Ich weiß nicht. | NA |
| 30 | Hexplatten | - Ich weiß nicht. | NA |
| 31 | Risse | - Ich weiß nicht. | NA |
| 32 | Partikel ((≥ 0,3um) | - Ich weiß nicht. | NA |
| 33 | Kontamination des Gebiets (Flecken) | - Ich weiß nicht. | Keine: Beide Seiten |
| 34 | RestmetalleVerunreinigung (ICP-MS) | Atom/cm2 | NA |
| 35 | EdgeProfil | - Ich weiß nicht. | Chamfer, R-Form |
| 36 | Verpackung | - Ich weiß nicht. | Mehrfachwafer-Kassette oder Einzelwafer-Container |
SiC-Epitaxialwafer ermöglichen die Massenproduktion zuverlässiger Leistungseinrichtungen in Sektoren wie:
Elektrofahrzeuge
Traktionsumrichter, Bordladegeräte und Gleichspannungs-/Gleichspannungsumrichter.
Erneuerbare Energien
Solarstring-Wechselrichter, Windenergiewandler.
Industrieantriebe
Effiziente Motorantriebe, Servosysteme.
5G/RF-Infrastruktur
Leistungsverstärker und HF-Schalter.
Verbraucherelektronik
Kompakte, hocheffiziente Stromversorgungen.
1Was ist der Nutzen von 8 ̊ SiC-Wafern?
Sie reduzieren die Produktionskosten pro Chip durch erhöhte Waferfläche und Prozessertrag erheblich.
2Wie reif ist die SiC-Produktion?
8 ¥ geht in die Pilotproduktion mit ausgewählten Branchenführern ein. Unsere Wafer sind nun für FuE und Volumen-Ramp zur Verfügung.
3- Können Doping und Dicke angepasst werden?
Ja, eine vollständige Anpassung des Dopingprofils und der Epi-Dicke ist verfügbar.
4Sind bestehende Fabriken mit 8 ̊ SiC-Wafern kompatibel?
Für eine vollständige 8 ̊-Kompatibilität sind geringfügige Ausrüstungserweiterungen erforderlich.
5Was ist die durchschnittliche Vorlaufzeit?
6~10 Wochen für erste Bestellungen; kürzer für wiederholte Mengen.
6Welche Branchen werden 8 ̊ SiC am schnellsten einsetzen?
Automobilindustrie, erneuerbare Energien und Netzinfrastruktur.
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