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Silikon-Karbid-Oblate
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SiC Dummy Wafer (EPI) CVD-Prozess SiC-Epitaxy- und MOCVD-Systeme

SiC Dummy Wafer (EPI) CVD-Prozess SiC-Epitaxy- und MOCVD-Systeme

Markenbezeichnung: ZMSH
MOQ: 1
Preis: by case
Verpackungsdetails: individuelle Kartons
Zahlungsbedingungen: T/T
Ausführliche Information
Herkunftsort:
China
Grad:
Null MPD-Klasse
Widerstand 4H-N:
00,015 bis 0,028 Ω•cm
Widerstand 4/6H-SI:
≥1E7 Ω·cm
Primäre Wohnung:
{10-10}±5,0° oder runde Form
TTV/Bow/Warp:
≤10μm /≤10μm /≤15μm
Rauheit:
Polnischer Ra≤1 nm / CMP Ra≤0,5 nm
Versorgungsmaterial-Fähigkeit:
Von Fall zu Fall
Hervorheben:

SiC-Dummy-Wafer für das CVD-Verfahren

,

EPI SiC-Wafer für MOCVD-Systeme

,

Siliziumkarbid-Epitaxie-Wafer

Produkt-Beschreibung

SiC-Epitaxialwaferübersicht

Die SiC-Epitaxialwafer entwickeln sich zu einem der fortschrittlichsten Formen in der SiC-Industrie.8 SiC-Epitaxialwafer bieten beispiellose Möglichkeiten zur Erweiterung der Produktion von Leistungseinrichtungen und zur Senkung der Kosten pro Gerät.

 

Da die Nachfrage nach Elektrofahrzeugen, erneuerbaren Energien und industrieller Leistungselektronik weltweit weiter steigt, ermöglichen Wafer eine neue Generation von SiC-MOSFETs, Dioden,und integrierte Leistungsmodule mit höherem Durchsatz, bessere Erträge und geringere Herstellungskosten.

SiC-Wafer verfügen über breite Bandbreiteneigenschaften, hohe Wärmeleitfähigkeit und eine außergewöhnliche Abbruchspannung und bringen neue Leistungs- und Effizienzniveaus in der fortschrittlichen Leistungselektronik.

 

SiC Dummy Wafer (EPI) CVD-Prozess SiC-Epitaxy- und MOCVD-Systeme 0SiC Dummy Wafer (EPI) CVD-Prozess SiC-Epitaxy- und MOCVD-Systeme 1

 


 

Wie SiC-Epitaxialwafer hergestellt werden

 

Die Herstellung von SiC-Epitaxialwafern erfordert CVD-Reaktoren der nächsten Generation, eine präzise Kristallwachstumskontrolle und eine Ultra-Flach-Substrattechnologie:

  1. Herstellung von Substraten
    Monokristalline SiC-Substrate werden mit Hilfe von Hochtemperatur-Sublimationstechniken hergestellt und anschließend bis zu einer Subnanometer-Rohheit poliert.

  2. Herz-Kreislauf-Krankheit Epitaxial Wachstum
    Fortgeschrittene großflächige CVD-Werkzeuge arbeiten bei ~ 1600 °C, um hochwertige SiC-Epitaxialschichten auf den 8 ̊-Substraten zu deponieren, wobei der Gasfluss und die Temperaturgleichheit für den Umgang mit der größeren Fläche optimiert sind.

  3. Maßgeschneiderter Doping
    N- oder P-Dopingprofile werden mit hoher Gleichmäßigkeit auf der gesamten 300 mm-Wafer erstellt.

  4. Präzisionsmetrologie
    Einheitlichkeitskontrolle, Überwachung von Kristallfehlern und In-situ-Prozessmanagement sorgen für Konsistenz von der Wafermitte bis zur Kante.

  5. Umfassende Qualitätssicherung
    Jede Wafer wird über:

    • AFM, Raman und XRD

    • Mapping von Fehlfunktionen der Vollwafer

    • Oberflächenrauheit und Warp-Analyse

    • Messungen der elektrischen Eigenschaften


Spezifikationen

  Zulassung   SiCSubstrat des Typs 8InchN
1 Polytyp - Ich weiß nicht. 4HSiC
2 LeitfähigkeitTyp - Ich weiß nicht. N
3 Durchmesser mm 200.00±0,5 mm
4 Stärke Ich weiß nicht. 700 ± 50 μm
5 Kristalloberflächenorientierungsachse Grade 40,0° nach ± 0,5°
6 Notchtiefe mm 1 bis 1,25 mm
7 Nichtorientierung Grade ± 5°
8 Widerstand ((Durchschnitt) Ohm NA
9 TTV Ich weiß nicht. NA
10 LTV Ich weiß nicht. NA
11 Verbeugen Ich weiß nicht. NA
12 Warpgeschwindigkeit Ich weiß nicht. NA
13 MPD cm-2 NA
14 TSD cm-2 NA
15 BPD cm-2 NA
16 TED cm-2 NA
17 EPD cm-2 NA
18 Ausländische Politiktypen - Ich weiß nicht. NA
19 SF ((BSF)))) Gridgröße 2x2 mm) % NA
20 TUA ((Gesamtverwendbare Fläche)) ((2x2mm Gridgröße) % NA
21 NominalEdgeExklusion mm NA
22 Bildschrauben - Ich weiß nicht. NA
23 Schablonenlänge ((SiOberfläche) mm NA
24 SiFace - Ich weiß nicht. CMPolierte
25 CFace - Ich weiß nicht. CMPolierte
26 Oberflächenrauheit (Siface) m NA
27 Oberflächenrauheit m NA
28 Lasermarkierung - Ich weiß nicht. C-Face, über dem Notch
29 Edgechip ((Vorder- und Rückseite Oberflächen) - Ich weiß nicht. NA
30 Hexplatten - Ich weiß nicht. NA
31 Risse - Ich weiß nicht. NA
32 Partikel ((≥ 0,3um) - Ich weiß nicht. NA
33 Kontamination des Gebiets (Flecken) - Ich weiß nicht. Keine: Beide Seiten
34 RestmetalleVerunreinigung (ICP-MS) Atom/cm2 NA
35 EdgeProfil - Ich weiß nicht. Chamfer, R-Form
36 Verpackung - Ich weiß nicht. Mehrfachwafer-Kassette oder Einzelwafer-Container

 

 


Anwendungen

 SiC-Epitaxialwafer ermöglichen die Massenproduktion zuverlässiger Leistungseinrichtungen in Sektoren wie:

  • Elektrofahrzeuge
    Traktionsumrichter, Bordladegeräte und Gleichspannungs-/Gleichspannungsumrichter.

  • Erneuerbare Energien
    Solarstring-Wechselrichter, Windenergiewandler.

  • Industrieantriebe
    Effiziente Motorantriebe, Servosysteme.

  • 5G/RF-Infrastruktur
    Leistungsverstärker und HF-Schalter.

  • Verbraucherelektronik
    Kompakte, hocheffiziente Stromversorgungen.


Häufig gestellte Fragen (FAQ)

1Was ist der Nutzen von 8 ̊ SiC-Wafern?
Sie reduzieren die Produktionskosten pro Chip durch erhöhte Waferfläche und Prozessertrag erheblich.

 

2Wie reif ist die SiC-Produktion?
8 ¥ geht in die Pilotproduktion mit ausgewählten Branchenführern ein. Unsere Wafer sind nun für FuE und Volumen-Ramp zur Verfügung.

 

3- Können Doping und Dicke angepasst werden?
Ja, eine vollständige Anpassung des Dopingprofils und der Epi-Dicke ist verfügbar.

 

4Sind bestehende Fabriken mit 8 ̊ SiC-Wafern kompatibel?
Für eine vollständige 8 ̊-Kompatibilität sind geringfügige Ausrüstungserweiterungen erforderlich.

 

5Was ist die durchschnittliche Vorlaufzeit?
6~10 Wochen für erste Bestellungen; kürzer für wiederholte Mengen.

 

6Welche Branchen werden 8 ̊ SiC am schnellsten einsetzen?
Automobilindustrie, erneuerbare Energien und Netzinfrastruktur.

 


 

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